直流微電阻計與交流微電阻計測量和使用的區(qū)別

日期：2025-05-06 10:07

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摘要：

直流微電阻計與交流微電阻計測量和使用的區(qū)別

直流微電阻計與交流微電阻計測量和使用的區(qū)別，日本日置的交流微電阻計以HIOKI 3560和HIOKI3561為例，日本日置直流微電阻計以HIOKI 3540和HIOKI 3541為例。這樣交流微電阻計與直流微電阻計區(qū)別在下面表里反應(yīng)出來
測量原理 直流微電阻計（3540、3541） 交流微電阻計3560、3561
測量原理從主機(jī)輸出DC恒電流、確認(rèn)被測量物（電阻）による電壓下降從主機(jī)輸出AC恒電流、確認(rèn)被測量物（電阻）引起的電壓下降
DC電流回路（蓄電池等）上AC電流不會有影響
電阻測量精度比較高（*高0.007％）若干低（*高0.5％）
熱起電力影響有影響（3541能去掉）熱起電力發(fā)生多余電壓引起電阻計的精度低下沒有
微電阻量程測量電流比較大（3540是100mA、3541是1A）嫌惡大電流的元件（開關(guān)的氧化膜等）被破壞小（3560是7.4mA、3561是10mA）

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測量原理	直流微電阻計（3540、3541）	交流微電阻計3560、3561
測量原理	從主機(jī)輸出DC恒電流、確認(rèn)被測量物（電阻）による電壓下降	從主機(jī)輸出AC恒電流、確認(rèn)被測量物（電阻）引起的電壓下降
測量原理	從主機(jī)輸出DC恒電流、確認(rèn)被測量物（電阻）による電壓下降	DC電流回路（蓄電池等）上AC電流不會有影響
電阻測量精度	比較高（*高0.007％）	若干低（*高0.5％）
熱起電力影響	有影響（3541能去掉）熱起電力發(fā)生多余電壓引起電阻計的精度低下	沒有
微電阻量程測量電流	比較大（3540是100mA、3541是1A）嫌惡大電流的元件（開關(guān)的氧化膜等）被破壞	小（3560是7.4mA、3561是10mA）

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