美國泛美35/35DL超聲波高精度測厚儀

35系列

Panametrics-NDT 系列35超聲波高精度測厚儀在難以或是不可能進入測試材料另一側(cè)的應用場合能提供使用簡單并且經(jīng)濟的解決方案。這些結(jié)實耐用的袖珍型儀器能對大多數(shù)外形和大小不一的材料做穩(wěn)定、重復的厚度測量。**的厚度測量值以大數(shù)字形式顯示在LCD顯示屏上，或者在選項A－SCAN模式下伴隨著實時波形一起顯示。

新功能：

35系列功能

• 對所有的型號，聲速和減薄率測量是正常模式
• 從0.0030″到25.0″（0.08mm到635mm）的大厚度測量范圍，取決于儀器和材料
• 使用直接接觸式、延遲式和水浸式探頭
• 具有默認設(shè)置和用戶自定義設(shè)置應用自動－調(diào)用功能
• 手持式，重量僅8.5oz.（0.24kg）
• *小/*大值模式
• 高－低報警
• 英制和公制單位顯示（英寸/毫米）
• 多種語言用戶界面
• 長的電池壽命

35和35DL

35和35DL用于大多數(shù)的應用中

35和35DL可使用的探頭范圍從2.25到30MHz，這意味著這些多功能型儀器可以解決大部分從極薄到極厚的厚度測量應用。一般而言，高頻小直徑的探頭用于較薄或者曲面工件的測量，并且能提高測量的精度

應用

• 從薄到厚的大多數(shù)材料
• 薄至0.08mm（或0.003英寸）的塑料瓶、管、薄板
• 薄至0.10mm（或0.004英寸）的金屬容器、鋼圈、機械加工零件
• 氣缸內(nèi)孔，渦輪葉片
• 玻璃燈泡，瓶子
• 薄的纖維玻璃，橡膠，陶瓷和復合材料
• 小半徑曲面和容器
• 分辨率高達0.001mm或0.0001